產(chǎn)品目錄
聯(lián)系方式
惠州市華高儀器設(shè)備有限公司
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號華貿(mào)大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：[email protected]
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號華貿(mào)大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：[email protected]
技術(shù)文章
- 德國耶拿 ICP-MS：生態(tài)經(jīng)濟與技術(shù)創(chuàng)新的等離子體質(zhì)譜儀
- 島津 Xslicer SMX-1010/1020：多場景無損檢測實用之選
- ROHS無鹵環(huán)保檢測儀在電子行業(yè)中的作用
- 如何選擇液相色譜儀
- 手持式光譜儀助力食品檢測
- 華高 HG-1217：家電數(shù)碼噴涂硬度測試專用設(shè)備
- 美國丹納赫 E-MAX：移動式重金屬分析實用型方案
- 貴金屬元素分析儀的精確度與靈敏度優(yōu)化
- 華高 SDC-300G 水滴角測試儀：表面性能檢測可靠之選
- 柯尼卡美能達 CR-10plus 色差儀：便攜精準的色彩檢測實用之選
產(chǎn)品中心
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號 | 產(chǎn)品描述 |
-
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結(jié)果業(yè)界*。 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。 -
X射線熒光鍍層測厚儀測量元素范圍：鈦Ti22---鈾U92； 測量5層（4層鍍層+底材層）鍍層，同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線； 測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結(jié)果*確至μin； 快速無損測量，測量時間短，10秒內(nèi)得出測量結(jié)果； 可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析； 進行貴金屬檢測。 -
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結(jié)果業(yè)界。 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。 -
日本島津超聲波光學(xué)金屬表面探傷儀 島津的光學(xué)成像技術(shù)，將超聲波振子和頻閃觀測器相結(jié)合，在試樣表面使用超聲波振蕩器振動，表面因超聲波傳輸受到的微小位移用激光照射和光學(xué)相機實現(xiàn)可視化，從而根據(jù)超聲波的間斷來檢測出缺陷。超聲波光學(xué)探傷裝置MIV-X可以使傳統(tǒng)超聲檢測難以發(fā)現(xiàn)的內(nèi)部缺陷可視化。 -
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結(jié)果業(yè)界。 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
-
TREK重錘式表面電阻測試儀 無損檢測儀 Trek-152-1 表面電阻測試儀是用來測量各種傳導(dǎo)、損耗、絕緣的面電阻
